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如何测定低温氧化铝的原晶粒度
点击次数:   更新时间:18/11/30 14:38:11     来源:www.i4atlantis.com关闭分    享:

  低温氧化铝是一个细晶粒的聚集体,原晶粒度是衡量其使用性能的一个重要指标,因此,我们在使用该产品之前通常会先测定一下产品的原晶粒度大小。下文为大家介绍了该产品的原晶粒度测量方法,大家可以了解一下。
  1.红外光谱结构分析法:由于谱线吸收带的大小与晶粒度的大小有关,可在红外光谱仪的结构中,引入一种吸附带面积积分仪,来算出低温氧化铝的平均晶粒度。
  2.X射线衍射法:该法可测定拟薄水铝石的晶粒度,但氧化铝系列产品的衍射谱线是窄而锐利的,实验表明并不存在“款化效应”,甚至由于矿化剂的影响,造成衍射峰的强度与JCPDS卡片不一致,进而影响到氧化铝定量分析的准确性。
  3.氮吸附小比表面法:对于多孔活性物质较合适,但由于从高温下获得的氧化铝烧结体是致密的,开气孔和闭气孔均很少,液氮分子难以进入晶粒的间隙,因此测定的范围是有限的,其测定晶粒度的误差也较大。
  4.电子显微镜法:用化学腐蚀与扫描电镜相结合测定低温氧化铝的原晶粒度,该法既直观又可靠,是能反映晶粒形貌、尺寸的有效方法,但设备投资大,分析费用高。

  上述4中测定低温氧化铝原晶粒度的方法,是根据它的测定原理划分的,每种方法有其独特的特点,大家可以根据工作时的环境状况选择合适的测定方法。


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